Issue on TIU caused by pogo pin and

Issue on TIU caused by pogo pin and relay contributes 25% to the total unscheduled downtime of Class Test .
40% of the errors will trace back to relays and fixing it is not easy.
TIU relays are commonly tested manually. However, as product complexity increases, the number of relays mounted to the TIU also increases.
In practice, the existing manual approach of verifying the TIU relay functionality will be more time consuming and prone to human error.

Kết quả (Việt) 1:

Các vấn đề trên TIU gây ra bởi pogo pin và rơ le đóng góp 25% cho thời gian chết đột xuất tất cả lớp học thử nghiệm.40% các lỗi sẽ trở lại dấu vết để rơ le và sửa chữa nó không phải là dễ dàng. TIU rơ le thường được kiểm tra theo cách thủ công. Tuy nhiên, là sản phẩm tăng thêm sự phức tạp, số lượng các rơ le gắn vào TIU cũng tăng.Trong thực tế, hướng dẫn sử dụng cách tiếp cận hiện có để xác minh chức năng chuyển tiếp TIU sẽ nhiều thời gian và dễ bị lỗi của con người.

Kết quả (Việt) 2:

Vấn đề về TIU do pin pogo và tiếp sức đóng góp 25% vào tổng thời gian chết đột xuất của lớp Test.
40% các lỗi sẽ theo dõi lại cho rơle và sửa chữa nó không phải là dễ dàng.
Rơle TIU thường được kiểm tra bằng tay. Tuy nhiên, như sản phẩm phức tạp tăng lên, số lượng rơle gắn kết với TIU cũng tăng.
Trong thực tế, các phương pháp thủ công hiện xác minh các chức năng tiếp sức TIU sẽ có nhiều tốn và dễ bị lỗi của con người thời gian.