Attached file is Final FA report re

Attached file is Final FA report relate “Auto turn on when insert battery” of SM5504.

 1ea unit samples at July 21th from SEVT were returned to Silicon Mitus due to SM5504 of “Auto Turn On when insert Battery” at J120.
 There were no find abnormalities points in the manufacturing process and shipping history about returned material from SEVT.
 There was no detected abnormality point on external visual inspection step of package using high power microscope (X 1,000).
 It was performed final test using currently mass production test program. 2ea parameters (JIG leakage) were failed relate JIG pin.
 Physical analysis: Couldn’t find hard defect point or abnormality point under layer by layer de-processing analysis.
 It’s concluded that analysis results (Incoming inspection, Final Test & delayering analysis) of SM5504 returned material from SEVT,
it was suspected device mal-function due to ESD damage from unknown external source.

Kết quả (Việt) 2:

Tập tin đính kèm là bản báo cáo cuối cùng FA liên quan "Tự động bật khi chèn pin" của SM5504.  mẫu đơn 1EA tại 21 tháng 7 từ SEVT được trả lại cho Silicon Mitus do SM5504 của "Auto Turn On khi chèn pin" tại J120.  Có không tìm thấy bất thường điểm trong quá trình sản xuất và lịch sử vận chuyển về tài liệu trở về từ SEVT.  không có điểm bất thường phát hiện trên bước kiểm tra hình ảnh bên ngoài của gói sử dụng kính hiển vi điện cao (X 1000).  Nó được thực hiện thử nghiệm thức sử dụng sản xuất hiện đại trà chương trình thử nghiệm. Thông số 2ea (JIG rò rỉ) đã thất bại liên pin JIG.  phân tích vật lý: Không thể tìm thấy điểm khiếm khuyết cứng hoặc điểm bất thường dưới lớp phân tích lớp de-chế biến.  Nó kết luận rằng kết quả phân tích (kiểm tra Incoming, Final Test & phân tích delayering ) của SM5504 trở vật liệu từ SEVT, nó đã bị nghi ngờ thiết bị suy chức năng do ESD thiệt hại từ nguồn bên ngoài không rõ.