whereas only carbon and oxygen were

whereas only carbon and oxygen were the only elements detected on the PI side. These results indicated that the failure occurred at the interface between the Ni-Cr layer and PI. In this study, the failure sites for the 20 nm-thick and 30 nm-thick Cr seed layer FCCL samples were similar to the results shown in Fig. 5.

Kết quả (Việt) 1:

trong khi đó chỉ có cacbon và ôxy là các yếu tố duy nhất được phát hiện bên PI. Những kết quả này chỉ ra rằng sự thất bại xảy ra tại giao diện giữa các lớp Ni-Cr và PI. Trong nghiên cứu này, các trang web thất bại cho 20 nm dày và 30 nm dày Cr hạt giống lớp FCCL mẫu đã được tương tự như các kết quả hiển thị trong hình 5.

Kết quả (Việt) 2:

trong khi chỉ có carbon và oxy là yếu tố duy nhất được phát hiện ở phía bên PI. Những kết quả này chỉ ra rằng sự thất bại xảy ra tại giao diện giữa các lớp Ni-Cr và PI. Trong nghiên cứu này, các trang web thất bại trong 20 nm dày và 30 lớp hạt Cr mẫu FCCL nm dày cũng tương tự như kết quả thể hiện trong hình. 5.