Technique DescriptionIn scanning el

Technique Description

In scanning electron microscopy, (SEM) an electron beam is scanned across a sample's surface. When the electrons strike the sample, a variety of signals are generated, and it is the detection of specific signals which produces an image or a sample's elemental composition. The three signals which provide the greatest amount of information in SEM are the secondary electrons, backscattered electrons, and X-rays.

Kết quả (Việt) 1:

Mô tả kỹ thuậtTrong chức năng quét kính hiển vi điện tử, (SEM) một electron chùm quét trên bề mặt của một mẫu. Khi các điện tử tấn công các mẫu, một loạt các tín hiệu được tạo ra, và nó là phát hiện tín hiệu cụ thể mà tạo ra một hình ảnh hoặc thành phần nguyên tố của một mẫu. Các tín hiệu ba mà cung cấp những số tiền lớn thông tin trong SEM là trung học điện tử, điện tử backscattered và x-quang.

Kết quả (Việt) 2:

Kỹ thuật Mô tả Trong kính hiển vi điện tử quét (SEM) một chùm electron được quét trên bề mặt của một mẫu. Khi các electron tấn công mẫu, một loạt các tín hiệu được tạo ra, và nó là phát hiện các tín hiệu cụ thể trong đó sản xuất một hình ảnh hoặc thành phần nguyên tố của một mẫu. Ba tín hiệu cung cấp số lượng lớn nhất của thông tin trong SEM là các electron thứ cấp, các electron tán xạ ngược, và X-quang.