Fig. 1 Field emission scanning elec

Fig. 1 Field emission scanning electron microscopy (FESEM; A, B) and
transmission electron microscopy (TEM; C, D) images of the as-prepared
SnO2 NSs. The inset in C is a selected-area electron diffraction (SAED)
pattern of a single SnO2 NS, and the one in D gives the fast Fourier
transform (FFT) pattern of the same region

Kết quả (Việt) 1:

Hình 1 Field phát thải quét kính hiển vi điện tử (FESEM; A, B) vàkính hiển vi điện tử truyền (TEM; C, D) hình ảnh của các như chuẩn bịSnO2 NSs. Ghép trong C là một nhiễu xạ điện tử khu vực lựa chọn (tri)Mô hình của một NS SnO2 duy nhất, và một trên D cho Fourier nhanhchuyển đổi (FFT) mô hình của cùng một vùng

Kết quả (Việt) 2:

Sung. 1 Dòng kính hiển vi quét phát xạ điện tử (FESEM; A, B) và
kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM; C, D) hình ảnh như chuẩn bị
SnO2 NSS. Hình nhỏ trong C là một nhiễu xạ electron chọn khu vực (SAED)
mô hình của một SnO2 NS duy nhất, và là một trong D cung cấp cho các Fourier nhanh chóng
chuyển đổi (FFT) mô hình của các khu vực tương tự