The dimensions of the PI and Cu lay

The dimensions of the PI and Cu layers for the peel test were 100 mm 10 mm and 100 mm 3 mm, respectively. Figure 3(a) shows a schematic of the FCCL manufactured for the peel test. The samples underwent 90 peel testing conducted at 4 mm/min with 10 specimens at each condition.
Figure 3(b) shows the schematic of the 90 peel test. After the peel test, the fracture surface and composition on the Cu and PI surfaces were identified with scanning electron microscopy (SEM, S-3000H, Hitachi, Japan) and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS).

Kết quả (Việt) 1:

Kích thước của các lớp PI và Cu cho bài kiểm tra vỏ là 100 mm, 10 mm và 100 mm 3 mm, tương ứng. Con số 3(a) cho thấy một sơ đồ FCCL sản xuất thử nghiệm vỏ. Các mẫu trải qua 90 vỏ thử nghiệm thực hiện ở 4 mm/phút với 10 mẫu vật tại mỗi điều kiện.Con số 3(b) cho thấy sơ đồ các bài kiểm tra 90 vỏ. Sau khi kiểm tra vỏ, bề mặt gãy xương và các thành phần trên bề mặt củ và PI đã được xác định với quét kính hiển vi điện tử (SEM, S - 3000H, Hitachi, Nhật bản) và chụp x quang phổ tán sắc năng lượng (chủ BIÊN).

Kết quả (Việt) 2:

Các kích thước của PI và các lớp Cừ cho các thử nghiệm vỏ là 100 mm 10 mm và 100 mm 3 mm, lần lượt. Hình 3 (a) cho thấy một sơ đồ của FCCL sản xuất cho các bài kiểm tra vỏ. Các mẫu đã trải qua 90 thử nghiệm vỏ tiến hành tại 4 mm / phút 10 mẫu tại mỗi điều kiện.
Hình 3 (b) cho thấy sơ đồ của bài kiểm tra 90 vỏ. Sau khi kiểm tra vỏ, mặt gãy và thành phần trên bề mặt Cu và PI đã được xác định bằng kính hiển vi điện tử quét (SEM, S-3000h, Hitachi, Nhật Bản) và năng lượng phân tán tia X quang phổ (EDS).