Thus sputter yield, S, can be measu

Thus sputter yield, S, can be measured by the following (i) weight loss of target, (ii)
decrease of target thickness, (iii) collection of the sputtered materials and (iv) detection of
sputtered particles in flight.

Kết quả (Việt) 1:

Do đó năng suất sputter, S, có thể được đo bằng cách sau (i) giảm cân của mục tiêu, (ii). giảm độ dày tiêu, (iii) thu thập các tài liệu sputtered và (iv) phát hiện sputtered hạt trong chuyến bay.

Kết quả (Việt) 2:

Do đó bắn mực lên năng suất, S, có thể được đo bằng cách sau đây: (i) giảm cân của mục tiêu, (ii)
giảm độ dày tiêu, (iii) thu thập các vật liệu phún xạ và (iv) phát hiện các
hạt phún xạ trong chuyến bay.