Diện tích bề mặt BET được đo bằng N2 hấp phụ ở -196 ○ C sử dụng càng sớm càng tốt 2010 (Micromeritics). Các mô hình nhiễu xạ tia X được ghi lại bằng cách sử dụng nhiễu xạ Rigaku D / MAX-IIIC (Ni fi ltered bức xạ CueK, 40 kV, 50 mA).
N2O-chemisorption được tiến hành trong một AutoChem II năm 2920 (Micromeritics). Diện tích bề mặt của Cu kim loại được đo bằng N2O
ples với 0,1 g được giảm ở mức 250 ○ C trong 2 giờ với 10% H2 / Ar fl ow. Việc tiêu thụ N2O và phát hành của N2 trên các trang web Cu kim loại (N2O þ 2Cu ¼ Cu2O þ N2) được đo ở 60 ○ C được bằng máy đo độ dẫn nhiệt (TCD). Diện tích bề mặt của kim loại Cu đã được tính toán bằng cách giả sử 1,46 × 1019 Cu nguyên tử / m2 với tỷ lệ mol
của 0,5 cho N2O / Cus (Cu nguyên tử trên bề mặt) và kích thước hạt của Cu đã được tính toán với phương trình 6000 / (8,92 × Cu kim loại khu vực surfa / Cu phần trong chất xúc tác gram) [19]
nhiệt độ lập trình giảm (TPR) thí nghiệm đã được thực hiện trong một Autochem 2910 (Micromeritics). Thông thường, 0,05 g mẫu precalcined đã được nạp vào một lò phản ứng thạch anh. Các TPR được
thực hiện bằng 10% H2 trong Ar với một tốc độ làm nóng 10 ○ C / phút, 20-400 ○ C. Độ nhạy của máy dò đã được hiệu chuẩn bởi
việc giảm cân nổi tiếng của NiO.
Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) hình ảnh của các chất xúc tác đã thu được trong Tecnai G2 Te20S (FEI) kính hiển vi với 200 kV
điện áp hoạt động. Tất cả các mẫu đã bị đình chỉ trong ethanol bởi sonication siêu. Việc đình chỉ được gửi trên một mạng lưới đồng với carbon fi lm cho phép đo TEM.
đang được dịch, vui lòng đợi..
![](//viimg.ilovetranslation.com/pic/loading_3.gif?v=b9814dd30c1d7c59_8619)