All samples were characterised by o

All samples were characterised by optical microscopy and scanning electron microscope (SEM) images as well as by means of surfaces and cross sections.
The compound layer thickness was established by means of element concentration profiles (first estimation), using glow discharge optical emission spectroscopy (GDOES) and by optical microscope measurement. The diffusion layer thickness was determined from hardness-depth-profile.
The composition of nitride layers (compound and diffusion layer) were determined by means of element concentration profiles using glow discharge optical emission spectroscopy (GDOES).
The transformation depth after EB surface remelting was determined using hardness-depth-profiles. Surface and layer hardness measurements were carried out by the Vickers method with a load of 30 N. Surface roughness measurements were made

Kết quả (Việt) 2:

Tất cả các mẫu được đặc trưng bằng kính hiển vi và vi điện tử quét quang kính hiển vi (SEM) hình ảnh cũng như bằng các phương tiện của các bề mặt và mặt cắt ngang.
Độ dày lớp hợp chất được thành lập bằng các phương tiện của hồ sơ tập trung phần tử (dự toán đầu tiên), sử dụng ánh sáng xả quang phổ phát xạ quang học ( GDOES) và bằng đo kính hiển vi quang học. Độ dày lớp khuếch tán đã được xác định từ độ cứng chuyên sâu-profile.
Các thành phần của lớp nitride (hợp chất và lớp khuếch tán) được xác định bằng các phương tiện của hồ sơ tập trung yếu tố sử dụng ánh sáng xả quang phổ phát xạ (GDOES).
Độ sâu chuyển đổi sau khi nấu chảy bề mặt EB là xác định bằng độ cứng chuyên sâu-profile. Đo bề mặt và độ cứng lớp được thực hiện theo phương pháp Vickers với một tải trọng của phương pháp bề mặt nhám 30 N. đã được thực hiện