Reduction of ultraviolet-radiation

Reduction of ultraviolet-radiation damage in SiO2 using pulse-time-modulated plasma and its application to charge coupled 44 device image sensor processes

Kết quả (Việt) 1:

Giảm thiệt hại bức xạ tia cực tím trong SiO2 sử dụng plasma xung-thời gian-điệu và ứng dụng của nó để sạc cùng 44 thiết bị cảm biến hình ảnh quá trình

Kết quả (Việt) 2:

Giảm thiệt hại tia cực tím bức xạ trong SiO2 bằng plasma xung thời gian điều chế và ứng dụng của nó để Charge Coupled 44 quy trình cảm biến hình ảnh thiết bị