Spectrum artifacts may appear in th

Spectrum artifacts may appear in the energy dispersive spectrum. These are peaks that are
not from elements in the sample. The Si escape peak, from the Si Ka line, results in an
artifact peak 1.74 eV lower than the parent peak when a Si(Li) detector is used. Such
an escape peak is shown in the EDXRF spectrum of an iron sample in Fig. 8.31.Similar escape peaks at different energies appear for Ge if a Ge detector is used.

Kết quả (Việt) 1:

Phổ cổ vật có thể xuất hiện trong quang phổ tán sắc năng lượng. Đây là những đỉnh núikhông phải từ các yếu tố trong mẫu. Cao điểm thoát Si, từ dòng Si Ka, kết quả trong mộtartifact cao điểm 1.74 eV thấp hơn đỉnh phụ huynh khi một máy dò Si(Li) được sử dụng. Như vậymột cao điểm thoát được thể hiện trong quang phổ EDXRF của một mẫu sắt trong hình 8.31.Similar thoát đỉnh tại nguồn năng lượng khác nhau xuất hiện cho Ge nếu một máy dò Ge được sử dụng.

Kết quả (Việt) 2:

Hiện vật Spectrum có thể xuất hiện trong phổ tán sắc năng lượng. Đây là những đỉnh núi mà
không phải từ các yếu tố trong mẫu. Các Si thoát cao điểm, từ dòng Si Ka, kết quả trong một
tạo tác đỉnh 1,74 eV thấp hơn đỉnh phụ huynh khi một (Li) phát hiện Si được sử dụng. Như
một đỉnh thoát được thể hiện trong phổ EDXRF của một mẫu sắt trong hình. Đỉnh thoát 8.31.Similar ở mức năng lượng khác nhau xuất hiện cho Ge Ge nếu một máy dò được sử dụng.