• Owingto this flexibility any inst

• Owingto this flexibility any instrument types can be accommodated, the quality of fit
obtainable surpasses all other currently employed profile fittingtechniques.
• For analysis of the actual sample, only a minimal number of refineable profile parameters is required, limited to the description of specimen contributions as needed; if
appropriately modeled, refined microstructure parameters have a physical meaning.
For accurate microstructure analysis, a complication arises from the fact that in practice,
measured instrument functions inevitably contain specimen contributions comingfrom
the reference material. Even an ideally crystalline reference material will always contribute
crystallite-size broadeningat minimum. In addition, for divergent beam diffractometers,
specimen transparency is another potential source of specimen broadening, whereby the
instrument function is linked to specimen preparation (packingdensity). As a result, the
broadeningby the actual sample tends to be underestimated. This can get significant
at smaller levels of microstructure broadening, leading to overestimated microstructure
effects.
4.3.2.2.2 Calculated instrument function approach
The calculated instrument function approach (fundamental parameters approach, FPA)
is characterized by functions Fi(2θ) representingboth the aberration functions of the diffractometer as well as the various specimen contributions as illustrated in Figure 4.25. In
other words, FPA represents Y (2θ) in terms of the dimensions of the diffractometer and the physical properties of the specimen. When specimen effects include both transparency
ST and microstructure effects SM , this can be written as
Y(2θ) = (W ⊗ G) ⊗ ST ⊗ SM (4.5)
whereby the instrument function in terms of the individual instrument aberration functions
Gi(2θ) is g iven by
I(2θ) = W ⊗ G1(2θ) ⊗ G2(2θ) ⊗ · · · ⊗ Gi(2θ) ⊗ · · · ⊗ Gn(2θ) (4.6)
Typical geometrical instrument contributions and their aberration functions have been
discussed earlier in Section 4.2.2.
From equations (4.2) and (4.6) it is seen that FPA is a special case of convolution-based
profile fitting, where all profile parameters have a physical meaning. From equation (4.5)
it is also seen that FPA explicitly distinguishes between specimen transparency and microstructure, and therefore allows the independent treatment of the effective mean linear
absorption coefficient or the thickness of a non-infinitely thick specimen (Kern and Coelho,
1998).

Kết quả (Việt) 1:

• Owingto tính linh hoạt này, bất kỳ loại nhạc cụ có thể được bố trí, chất lượng phù hợpcó thể đạt được vượt qua tất cả các fittingtechniques hiện đang được sử dụng hồ sơ.• Phân tích các mẫu thực tế, chỉ có một số tối thiểu của các thông số cấu hình refineable là cần thiết, hạn chế để mô tả những đóng góp của mẫu vật khi cần thiết; Nếutham số mô hình một cách thích hợp, tinh tế microstructure có một ý nghĩa vật lý.Để phân tích chính xác microstructure, một biến chứng phát sinh từ thực tế rằng thực hành tại,dụng cụ đo chức năng chắc chắn chứa mẫu đóng góp comingfromtài liệu tham khảo. Thậm chí là một tài liệu tham khảo lý tưởng nhất tinh sẽ luôn luôn đóng gópKích thước crystallite broadeningat tối thiểu. Ngoài ra, đối với phân kỳ chùm diffractometers,minh bạch mẫu là một nguồn tiềm năng của mẫu vật mở rộng, theo đó cácdụng cụ chức năng được liên kết với chuẩn bị mẫu (packingdensity). Kết quả là, cácbroadeningby mẫu thực tế có xu hướng được đánh giá thấp. Điều này có thể nhận được đáng kểở cấp độ nhỏ hơn của microstructure mở rộng, dẫn đến ước tính cao microstructurehiệu ứng.4.3.2.2.2 tính toán công cụ chức năng tiếp cậnCách tiếp cận chức năng tính toán công cụ (các thông số cơ bản phương pháp tiếp cận, FPA)được đặc trưng bởi chức năng Fi(2θ) representingboth các chức năng sai của diffractometer cũng như những đóng góp của mẫu vật khác nhau như minh họa trong hình 4.25. Ởnói cách khác, FPA đại diện cho Y (2θ) về kích thước của diffractometer và các tính chất vật lý của các mẫu vật. Khi tác dụng mẫu vật bao gồm cả minh bạchST microstructure hiệu ứng và SM, điều này có thể được viết dưới dạngY(2Θ) = (W ⊗ G) ⊗ ST ⊗ SM (4,5)nhờ đó mà các dụng cụ chức năng về các chức năng sai nhạc cụ cá nhânGi(2θ) là g iven bởiI(2Θ) = W ⊗ G1(2Θ) ⊗ G2(2Θ) ⊗ · ⊗ Gi(2θ) ⊗ · ⊗ Gn(2θ) (4.6)Những đóng góp đặc trưng hình học cụ và chức năng sai của họ đãthảo luận trước đó trong phần 4.2.2.Từ phương trình (4.2) và (4.6) nó được nhìn thấy rằng FPA là một trường hợp đặc biệt của convolution dựa trênHồ sơ phù hợp, nơi mà tất cả các thông số cấu hình có một ý nghĩa vật lý. Từ phương trình (4,5)nó cũng nhìn thấy FPA phân biệt rõ ràng giữa các mẫu vật tính minh bạch và microstructure, và do đó cho phép điều trị có hiệu quả có nghĩa là độc lập tuyến tínhHệ số hấp thụ hoặc độ dày của một mẫu vật không vô dày (Kern và Coelho,năm 1998).

Kết quả (Việt) 2:

• Owingto linh hoạt này bất kỳ loại nhạc cụ có thể được cung cấp, chất lượng phù hợp
có thể đạt được vượt quá mọi fittingtechniques hồ sơ hiện đang làm việc khác.
• Đối với phân tích các mẫu thực tế, chỉ có một số lượng tối thiểu của các thông số hồ sơ refineable là cần thiết, hạn chế các mô tả về mẫu đóng góp khi cần thiết; nếu
mô hình thích hợp, các thông số vi tinh có một ý nghĩa vật lý.
Đối với phân tích vi cấu trúc chính xác, một biến chứng phát sinh từ thực tế là trong thực tế,
chức năng cụ đo chắc chắn chứa mẫu đóng góp comingfrom
các tài liệu tham khảo. Ngay cả một tài liệu tham khảo lý tưởng tinh sẽ luôn đóng góp
Crystallite cỡ broadeningat tối thiểu. Ngoài ra, đối diffractometers chùm phân kì,
mẫu vật minh bạch là một nguồn tiềm năng của việc mở rộng mẫu, theo đó các
chức năng cụ được liên kết với mẫu vật chuẩn bị (packingdensity). Kết quả là, các
broadeningby mẫu thực tế có xu hướng đánh giá thấp. Điều này có thể có ý nghĩa
ở mức độ nhỏ hơn của vi mở rộng, dẫn đến vi đánh giá quá cao
ảnh hưởng.
4.3.2.2.2 Tính năng cụ tiếp cận
Cách tiếp cận chức năng cụ tính toán (thông số phương pháp cơ bản, FPA)
được đặc trưng bằng các chức năng Fi (2θ) representingboth chức năng quang sai của nhiễu xạ cũng như những đóng góp mẫu khác nhau như minh họa trong hình 4.25. Trong
Nói cách khác, FPA đại diện cho Y (2θ) về kích thước của các nhiễu xạ và các tính chất vật lý của mẫu vật. Khi tác mẫu vật bao gồm cả minh bạch
ST và các hiệu ứng vi SM, điều này có thể được viết như
Y (2θ) = (W ⊗ G) ⊗ ST ⊗ SM (4.5)
, theo đó các chức năng cụ về các chức năng cá nhân cụ quang sai
Gi (2θ) là g Iven của
tôi (2θ) = W ⊗ G1 (2θ) ⊗ G2 (2θ) ⊗ · · · ⊗ Gi (2θ) ⊗ · · · ⊗ St (2θ) (4.6)
tiêu biểu đóng góp cụ hình học và chức năng quang sai của họ có được
thảo luận trước đó tại mục 4.2.2.
Từ phương trình (4.2) và (4.6) ta thấy rằng FPA là một trường hợp đặc biệt của chập dựa trên
hồ sơ phù hợp, nơi mà tất cả các thông số hồ sơ có một ý nghĩa vật lý. Từ phương trình (4.5)
cũng được xem là FPA một cách rõ ràng phân biệt giữa minh bạch mẫu vật và vi cấu trúc, và do đó cho phép điều trị độc lập của trung bình tuyến tính hiệu quả
hệ số hấp thụ hoặc độ dày của một mẫu vật không vô dày (Kern và Coelho,
1998).