Using the AFM surface height maps,

Using the AFM surface height maps, different statistical parameters of
microstructure and nanostructure can be obtained which include
P- B height, midwidth, peak radius, and bump density (or pitch).
Here, midwidth is defined as the width of the bump at a height
equal to half of peak to mean value.
Peak radius is defined as the
radius of curvature which is calculated from the parabolic curve
fit of the bump.4
Bump density is defined as the average number of
bumps in the area of 100  10 0 μm2
.

Kết quả (Việt) 1:

Bằng cách sử dụng chiều cao AFM bề mặt bản đồ, thông số thống kê khác nhau củamicrostructure và Nano có thể được lấy đó bao gồmP - chiều cao B, midwidth, cao điểm bán kính, và vết sưng mật độ (hoặc sân).Ở đây, midwidth được định nghĩa là chiều rộng của những vết sưng ở độ caotương đương với một nửa đỉnh để có nghĩa là giá trị.Bán kính cao điểm được định nghĩa là cácbán kính của suất cong tính từ đường cong parabolsự phù hợp của bump.4Vết sưng mật độ được định nghĩa là số trung bìnhnhững va chạm trong khu vực của 100 10 0 μm2.

Kết quả (Việt) 2:

Sử dụng bản đồ chiều cao bề mặt AFM, các thông số thống kê khác nhau của
vi cấu trúc và cấu trúc nano có thể thu được bao gồm
chiều cao B P-, midwidth, bán kính đỉnh, và đụng độ (hoặc cường độ).
Ở đây, midwidth được định nghĩa là độ rộng của vết sưng ở một chiều cao
bằng một nửa đỉnh cao để có nghĩa là giá trị.
Đỉnh bán kính được xác định là
bán kính cong được tính từ các đường cong parabol
phù hợp của bump.4
mật độ Bump được định nghĩa là số trung bình của các
va chạm trong diện tích 100? 10 0 μm2
.