X-ray diffraction (XRD) carried out on a Siemens D5000 diffractometer using Cu Kα radiation, 201–7012θ range, scan rate 0.05 12θ/s, 10 s per step and 40 kV and 20 mA conditions.
Nhiễu xạ tia x (XRD) thực hiện trên một D5000 Siemens diffractometer sử dụng Cu Kα bức xạ, phạm vi 201-7012θ, quét tỷ lệ 0,05 12θ/s, 10 s mỗi bước và 40 kV và 20 mA điều kiện.