CharacterizationFor all measurement

Characterization
For all measurements except in situ XRD, samples were annealed for 1 h at a desired temperature between 600 and 1100
C.Raman scattering measurements were performed using the
488nm line of an Ar+ ion laser. The scattered light was collected and analyzed using a T64000 Jobin Yvon spectrometer with a spectral resolution of 1 cm–1. Both scattering geometries, polarized (VV) and depolarized (VH) were measured.

Kết quả (Việt) 1:

Đặc tínhĐể đo lường tất cả ngoại trừ tại chỗ XRD, mẫu đã được annealed cho 1 h ở nhiệt độ mong muốn giữa 600 và phép đo sự tán xạ của 1100 C.Raman đã được thực hiện bằng cách sử dụng các488nm dòng một Ar + ion laser. Phân tán ánh sáng đã được thu thập và phân tích bằng cách sử dụng một máy đo phổ T64000 Jobin Yvon với độ phân giải quang phổ của 1 cm-1. Cả hai hình sự tán xạ, phân cực (VV) và depolarized (VH) được đo.

Kết quả (Việt) 3:

表征Đối với tất cả các biện pháp, ngoại trừ ở vị trí các mẫu nhiễu xạ tia X, tiến hành ủ 1 tiếng, ở nhiệt độ cần thiết, trong tán xạ Raman giữa 600 và 1100 dùng biện pháp tiến hành.Một tia laser argon 488nm dòng ion.Tán xạ ánh sáng để thu thập và phân tích, sử dụng t64000 Jobin Yvon Spectrometer 1 – 1 cm phổ độ phân giải.Tán xạ của hình học, phân cực (VV) và khử cực (VH) xác định.