charged-particle. A material of thi

charged-particle. A material of thickness of about 10 (multiply
by density to obtain thickness in can be considered to be a thin target
for commonly used beamenergies [267]. Therefore, the PIXE method
is limited to examining thin samples (1 mg or less) and aerosol droplets.
Background. As charged-particles lose energy they also emit photons
by the bremsstrahlung process discussed in section 3.3. This creates
a continuous background photon spectrum underlying the fluorescence
radiation of interest. The background is higher for lighter chargedparticles,
since heavy ones do not produce much bremsstrahlung. In
addition, electrons ejected and subsequently accelerated by the incident
charged-particles, also produce secondary bremsstrahlung radiation that
further adds to the background component. The recoil-electrons that
are produced by the Compton scattering of the emitted x-rays can also
contribute to the background continuum. In light elements, nucleus activation
can occur, producing its own photon emission, as for example in
the 511 keV photons produced by fluorine in teflon via the
reaction, see Table 8.7. The gamma-rays emitted in such a reaction produce
a continuous background component by scattering within the target
and the surroundings. Every effort should made to reduce these, and
other possible sources of background effects, to increase the signal-tobackground
ratio and obtain good indications for fluorescence emission.
Ionoluminescence. X-rays emitted by PIXE are simultaneously accompanied
by luminescent light, which has a frequency extending from
that of infrared to that of ultraviolet [273]. This light, called ionoluminescence,
can be used for the detection of rare-earth elements, as the
luminescence emission lines from such elements are sharp, stable and
have a high yield in a variety of elements [274].

Kết quả (Việt) 1:

trả-hạt. Một tài liệu của các độ dày của khoảng 10 (nhântheo mật độ để có được độ dày tại có thể được coi là một mục tiêu mỏngnhất thường được sử dụng beamenergies [267]. Vì vậy, phương pháp PIXEgiới hạn kiểm tra mẫu mỏng (1 mg hoặc ít hơn) và bình phun giọt.Nền. Khi hạt trả mất năng lượng họ cũng phát ra các photonbởi quá trình bremsstrahlung thảo luận trong phần 3.3. Điều này tạo ramột nền liên tục quang phổ tiềm ẩn huỳnh quangbức xạ quan tâm. Phía sau là cao hơn cho nhẹ hơn chargedparticles,kể từ khi nặng những người không sản xuất nhiều bremsstrahlung. ỞNgoài ra, điện tử bị đẩy ra và sau đó tăng tốc của vụ việctrả-hạt, cũng sản xuất thứ cấp bremsstrahlung bức xạ màtiếp tục thêm các thành phần nền. Các điện tử bật lên đóđược sản xuất bởi Compton tán xạ phát ra tia x cũng có thểđóng góp vào nền liên tục. Trong ánh sáng yếu tố, kích hoạt hạt nhâncó thể xảy ra, sản xuất khí thải photon riêng của mình, như ví dụ ở511 keV photon được sản xuất bởi Flo trong teflon thông qua cácphản ứng, xem bảng 8.7. Gamma-tia phát ra trong phản ứng sản xuấtmột thành phần nền liên tục bởi các tán xạ trong mục tiêuvà các khu vực xung quanh. Mọi nỗ lực nên thực hiện để giảm này, vàCác nguồn có thể khác của hiệu ứng nền, để tăng tín hiệu-tobackgroundtỷ lệ và có được các dấu hiệu tốt cho huỳnh quang phát thải.Ionoluminescence. Chụp x-quang phát ra từ PIXE đồng thời đi kèm vớibởi ánh sáng huỳnh quang, trong đó có một tần số kéo dài từlà hồng ngoại của tia cực tím [273]. Này ionoluminescence ánh sáng, được gọi là,có thể được sử dụng để phát hiện các nguyên tố đất hiếm-, như cácđây vạch bức xạ từ các yếu tố được sắc nét, ổn định vàcó một năng suất cao trong một loạt các yếu tố [274].