These results indicate that the films sulfurized at low temperatures contained S defects or impurity levels and that the films sulfurized at high temperature had none of them, except the 600 C film.
These results indicate thatthe films sulfurized at low temperatures contained S defectsor impurity levels and that the films sulfurized at hightemperature had none of them, except the 600 C film.
Những kết quả này chỉ ra rằng những bộ phim sulfurized ở nhiệt độ thấp chứa S khuyết tật hoặc mức độ tạp chất và những bộ phim sulfurized ở cao nhiệt độ có ai trong số họ, ngoại trừ 600? C phim.