The group has reported ellipsometry measurements in the wavelength range 500 nm…800 nm that show significant changes of the voltage-dependent refractive indexin bulk ITO layers that are transparent at these wavelengths
Nhóm đã báo cáo ellipsometry đo ở bước sóng khoảng 500 nm...800 nm Hiển thị các thay đổi quan trọng của phần phụ thuộc vào áp khúc xạ indexin lớn ITO lớp được minh bạch các bước sóng
Các nhóm đã được báo cáo đo ellipsometry trong khoảng bước sóng 500 nm ... 800 nm cho thấy những thay đổi đáng kể của khúc xạ điện áp phụ thuộc vào số lượng lớn indexin lớp ITO được minh bạch tại các bước sóng