Analysis of Crystallinity: The crystallinity was calculated by the powder X-ray diffraction patterns with a diffractometer (Geigerflex RAD-IB, Rigaku, Ni-filter, CuK", ray; 40 kV; 20 mA) and was determined
Phân tích của Crystallinity: crystallinity đã được tính toán bởi các mô hình nhiễu xạ tia x bột với một diffractometer (Geigerflex RAD-IB, Rigaku, Ni-lọc, CuK", ray; 40 kV; 20 mA) và đã được xác định
Phân tích của tinh thể: Các tinh thể đã được tính toán bằng các mô hình nhiễu xạ bột X-ray với một nhiễu xạ (Geigerflex RAD-IB, Rigaku, Ni-lọc, Cuk ", ray, 40 kV, 20 mA) và đã được xác định