2.2. CharacterizationGeneral charac

2.2. Characterization
General characterization methods have been applied to the
samples [20 , 36]. Field emission scanning electron microscope
(SEM, FEI Inspect F50) with highest spatial resolution of 1 nm was
used to observe the morphology of samples. An energy dispersive
spectrometer (EDS) is attached on SEM for the elemental detection
and mapping. The crystalline structure was investigated by X-ray
diffraction (XRD, Rigaku Smartlab3) with Cu K α radiation from a
3 kW X-ray generator, and the smallest step of angle is 0.0 0 01 °.
The photoluminescence (PL) spectra of the samples were acquired
at room temperature with acquisition time of 0.1 s by excitation
with the 340 nm line of a Xe lamp (Horiba Jobin Yvon Fluorolog-3)
in the wave range between 20 0 nm to 80 0 nm with
resolution r 0.1 nm and signal to noise ratio of higher than
10,0 0 0:1.

Kết quả (Việt) 1:

2.2. đặc tínhĐặc tính chung phương pháp đã được áp dụng cho cácmẫu [20, 36]. Kính hiển vi điện tử quét phát thải Field(SEM, FEI kiểm tra F50) với độ phân giải không gian cao nhất của 1 nmđược sử dụng để quan sát hình thái của mẫu. Một năng lượng tán sắcspectrometer (EDS) được gắn vào SEM để phát hiện các nguyên tốvà lập bản đồ. Cấu trúc tinh thể điều tra bằng X-raynhiễu xạ (XRD, Rigaku Smartlab3) với Cu K α bức xạ từ một3 kW chụp x quang máy phát điện, và bước góc, nhỏ nhất là 0,0 0 01 °.Spectra photoluminescence (com) của các mẫu đã muaở nhiệt độ phòng với việc mua lại thời gian là 0,1 s bởi sự kích thíchvới dòng 340 nm của một bóng đèn Xe (Horiba Jobin Yvon Fluorolog-3)trong phạm vi sóng giữa 20 0 nm tới 80 0 nm vớiđộ phân giải r 0,1 nm và tín hiệu tỉ lệ nhiễu của cao hơn10,0 0 0:1.

Kết quả (Việt) 2:

2.2. Mô tả đặc điểm
các phương pháp mô tả đặc điểm chung đã được áp dụng cho các
mẫu [20, 36]. Dòng kính hiển vi quét phát xạ điện tử
(SEM, FEI Kiểm tra F50) với độ phân giải không gian cao nhất của 1 nm được
sử dụng để quan sát hình thái của mẫu. Một năng lượng phân tán
phổ kế (EDS) được gắn trên SEM để phát hiện nguyên tố
và lập bản đồ. Cấu trúc tinh thể được khảo sát bằng tia X
nhiễu xạ (XRD, Rigaku Smartlab3) với bức xạ α Củ K từ một
máy phát tia X 3 kW, và bước nhỏ nhất của góc là 0,0 0 01 °.
Các phát sáng quang (PL) quang phổ của mẫu đã được mua lại
ở nhiệt độ phòng với việc mua lại thời gian 0,1 s do kích thích
với các dòng 340 nm của đèn Xe (HORIBA Jobin Yvon Fluorolog-3)
trong dải sóng từ 20 0 nm đến 80 0 nm với
độ phân giải r 0,1 nm và tín hiệu để tiếng ồn tỷ lệ cao hơn so với
10,0 0 0: 1.