Fig. 12. XRD pattern (a) and AFM im

Fig. 12. XRD pattern (a) and AFM image (h) observed for a new type of
crystalline diamond fabricated on a sapphire-c substrate. Observation of (I I I)
and (222) XRD lines due to cubic diamond indicate the growth of (I I I)
oriented diamond film. The constituent crystals in the film have tetragonal form
with side facets of (11-20) and (1-100) in hexagonal representation, which is
completely different
buffer layer thickness 50 nm; the corresponding AFM image is
shown in Fig. 13. The averaged roughness (RMS) is only 1.2
and 4.7 nm for the ZnO epitaxial films fabricated on sapphire-a
and -C planes, respectively [39]. Both are smaller than the value
(R.M.S. == ~IO nrn) of films fabricated without buffer layer
[38]. The FWHM value of the rocking curves for the (0002)
XRD of the best f 1m on sapphi re-a was as small as 0.08°. These
results indicate the usefulness of low-temperature buffer layer
for improving the crystallinity of films. The good surface
flatness for the film on sapphire-a plane may be due to a better
lattice-matching of ZnO lattice with the plane.

Kết quả (Việt) 1:

Hình 12. Mô hình XRD (a) và hình ảnh AFM (h) quan sát cho một loại mới của tinh thể kim cương chế tạo trên một bề mặt sapphire-c. Các quan sát của (tôi tôi tôi) và (222) XRD dòng do khối kim cương cho thấy sự tăng trưởng của (tôi tôi tôi) bộ phim kim cương theo định hướng. Các tinh thể thành phần trong bộ phim có bốn phương hình thức với khía cạnh bên của (11-20) và (1-100) tại đại diện hình lục giác, đó là hoàn toàn khác nhau bộ đệm lớp dày 50 nm; hình ảnh AFM tương ứng là Hiển thị trong hình 13. Gồ ghề averaged (RMS) là chỉ 1.2 và 4.7 nm cho phim trải ZnO được chế tạo vào sapphire-a và - C máy bay, tương ứng [39]. Cả hai đều nhỏ hơn giá trị (R.M.S. == ~ IO nrn) của phim chế tạo mà không có đệm lớp [38]. the FWHM giá trị của các rocking đường cong cho (0002) XRD tốt nhất f 1m trên sapphi re-a là nhỏ đến 0.08°. Đây kết quả cho thấy tính hữu dụng của nhiệt độ thấp đệm lớp để cải thiện crystallinity của bộ phim. Bề mặt tốt độ phẳng cho bộ phim trên sapphire một máy bay có thể là do một tốt hơn lưới-kết hợp của ZnO lưới với máy bay.

Kết quả (Việt) 2:

Vả. 12. XRD mô hình (a) và hình ảnh AFM (h) quan sát cho một loại mới của
tinh thể kim cương chế tạo trên một chất nền sapphire-c. Quan sát (III)
và (222) XRD đường do kim cương khối chỉ ra sự tăng trưởng của (III)
phim kim cương định hướng. Những tinh thể thành bộ phim có ở dạng có bốn gốc
có mặt bên (20/11) và (từ 1-100) trong diện hình lục giác, đó là
hoàn khác nhau
độ dày lớp bộ đệm 50 nm; hình ảnh AFM tương ứng được
hiển thị trong hình. 13. trung bình nhám (RMS) chỉ là 1,2
và 4,7 nm cho bộ phim ZnO epitaxy chế tạo trên sapphire-a
và -C máy bay, tương ứng [39]. Cả là nhỏ hơn giá trị
dụng (RMS == ~ IO NRN) của bộ phim không bịa đặt layer bộ đệm
[38]. Các FWHM giá trị của các đường cong rocking cho (0002)
XRD của f 1m tốt nhất trên sapphi lại một là nhỏ như 0,08 °. Những
kết quả cho thấy sự hữu dụng của lớp đệm ở nhiệt độ thấp
để cải thiện kết tinh của bộ phim. Các bề mặt tốt
độ phẳng cho các bộ phim trên sapphire-một chiếc máy bay có thể là do một tốt hơn
mạng khớp của ZnO mạng với các máy bay.