In the early 1960s, transparency wh

In the early 1960s, transparency which was sufficiently good, so that imaging through short path lengths was possible, was observed in certain glass ceramic materials [1] and this eventually led to a commercial cookware application. This work was instrumental in the subsequent discovery of many new transparent glass ceramic systems [2-29]. However, scattering in most of these new compositions is too large to be practical for optical devices. The turbidity in these systems is well described by Rayleigh Ganz particle scattering the ory, where the most important factors for achieving high transparency are a crystal size that is much smaller than the wavelength of the incident light and a small refractive index difference between the crystal and matrix glass phases.
In 1993, a novel glass-ceramic system that seemed to have transparency comparable to a glass was discovered [30]. These observations were confirmed by some later work [31], however, it was not until a method of preparing circular, single mode, guided wave optical fibers was developed that the scattering losses could be measured accurately enough to support these claims. Difference spectrum analyses of the data show that the intrinsic losses are of the order of tens of dBs/km [32].
It remains to determine some of the details of the relationship between properties, structure and turbidity in these ultra transparent glass-ceramics. The structures that can produce such small turbidities are now thought to contain less than 10 vol% of crystals, whose size must be of the order of 10 nm or less. Since the best scattering data are obtained from loss measurements on single mode, guided wave fibers, structural analysis with X-ray or neutron diffraction methods is not possible be- cause of the small size of the core. Alternatively, thin sections from the fibers on which the scattering data were measured, were prepared, and examined by high resolution transmission electron microscopy (TEM). With this structural data and some estimates of the optical properties, it is now possible to identify some of the factors that lead to this remarkable transparency.

Kết quả (Việt) 1:

Trong đầu thập niên 1960, minh bạch đó là đủ tốt, do đó, rằng hình ảnh thông qua con đường ngắn độ dài là khả thi, được quan sát thấy trong ly một số vật liệu gốm [1] và điều này cuối cùng dẫn đến một ứng dụng thương mại, dụng cụ nấu nướng. Công trình này là công cụ trong việc khám phá tiếp theo của nhiều mới trong suốt thủy tinh gốm hệ [2-29]. Tuy nhiên, tán xạ trong hầu hết các tác phẩm mới là quá lớn để được thực hiện cho các thiết bị quang học. Độ đục trong các hệ thống này cũng được mô tả bởi Rayleigh Ganz hạt phân tán ory, nơi các yếu tố quan trọng nhất để đạt được minh bạch cao là một kích thước tinh thể là nhỏ hơn nhiều so với các bước sóng của ánh sáng cố và một sự khác biệt nhỏ chiết giữa giai đoạn thủy tinh pha lê và ma trận.Năm 1993, một hệ thống thủy tinh gốm sứ cuốn tiểu thuyết mà dường như có thể so sánh với một ly minh bạch là phát hiện [30]. Những quan sát đã được xác nhận bởi một số công việc sau này [31], Tuy nhiên, nó đã không cho đến khi một phương pháp chuẩn bị chế độ tròn, duy nhất, điều khiển bằng sóng quang học sợi đã được phát triển rằng những thiệt hại tán xạ có thể được đo chính xác, đủ để hỗ trợ các yêu cầu bồi thường. Phân tích quang phổ khác biệt của các dữ liệu Hiển thị các thiệt hại nội tại thứ tự của hàng chục dBs/km [32].Nó vẫn còn để xác định một số chi tiết của mối quan hệ giữa các tài sản, cấu trúc và độ đục trong những cực trong suốt thủy tinh gốm. Các cấu trúc có thể sản xuất như vậy turbidities nhỏ bây giờ nghĩ rằng để chứa ít hơn 10 vol % của các tinh thể, có kích thước phải là thứ tự của 10 nm hoặc ít hơn. Bởi vì dữ liệu tán xạ tốt nhất thu được từ giảm cân đo đạc về chế độ đơn, điều khiển sóng sợi, các phân tích cấu trúc với phương pháp nhiễu xạ tia x hoặc neutron là không thể-nguyên nhân gây ra kích thước nhỏ của cốt lõi. Ngoài ra, mỏng phần từ các sợi trên đó dữ liệu tán xạ được đo, được chuẩn bị sẵn sàng, và kiểm tra bằng kính hiển vi điện tử truyền dẫn độ phân giải cao (TEM). Với cấu trúc dữ liệu này và một số ước tính của các thuộc tính quang học, nó là bây giờ có thể để xác định một số trong những yếu tố dẫn đến tính minh bạch này đáng chú ý.

Kết quả (Việt) 2:

Vào đầu những năm 1960, sự minh bạch đó là đủ tốt, vì vậy mà hình ảnh thông qua độ dài đường đi ngắn đã có thể, đã được quan sát thấy trong các vật liệu gốm thủy tinh nhất định [1] và điều này cuối cùng dẫn đến một ứng dụng cụ nấu thương mại. Công trình này là công cụ trong việc khám phá tiếp theo của nhiều hệ thống gốm thủy tinh trong suốt mới [2-29]. Tuy nhiên, nằm ​​rải rác ở hầu hết các tác phẩm này mới là quá lớn để được thực tế cho các thiết bị quang học. Độ đục trong các hệ thống này cũng được mô tả bởi Rayleigh Ganz hạt phân tán các Ory, nơi mà yếu tố quan trọng nhất để đạt được sự minh bạch cao là một kích thước tinh thể đó là nhỏ hơn nhiều so với bước sóng của ánh sáng tới và một sự khác biệt chiết suất nhỏ giữa các tinh thể và giai đoạn kính ma trận.
Trong năm 1993, một hệ thống kính gốm cuốn tiểu thuyết mà dường như có sự minh bạch so sánh với một thủy tinh đã được phát hiện [30]. Những quan sát này đã được xác nhận bởi một số công việc sau này [31] Tuy nhiên, phải đến một phương pháp chuẩn bị tròn, đơn mode, sợi quang học sóng hướng dẫn đã được phát triển rằng sự thiệt hại tán xạ có thể được đo lường một cách chính xác, đủ để hỗ trợ cho những tuyên bố này. Sự khác biệt phân tích quang phổ của các dữ liệu cho thấy rằng sự thiệt hại thực chất là số thứ tự của hàng chục dB / km [32].
Nó vẫn còn để xác định một số chi tiết về mối quan hệ giữa tính chất, cấu trúc và độ đục trong những siêu trong suốt thủy tinh, gốm sứ. Các cấu trúc đó có thể sản xuất turbidities nhỏ đó, hiện nay được cho là chứa ít hơn 10% vol của các tinh thể, có kích thước phải được các thứ tự của 10 nm hoặc ít hơn. Do dữ liệu phân tán tốt nhất thu được từ các phép đo tổn thất về chế độ duy nhất, sợi sóng hướng dẫn, phân tích kết cấu với các phương pháp X-ray hoặc nhiễu xạ neutron không thể gây ra được- của kích thước nhỏ của lõi. Ngoài ra, phần mỏng từ các sợi mà trên đó các dữ liệu tán xạ được đo, đã được chuẩn bị, và kiểm tra bằng kính hiển vi điện tử truyền qua phân giải cao (TEM). Với dữ liệu cấu trúc này và một số ước tính của các tính chất quang học, bây giờ có thể xác định một số yếu tố dẫn đến sự minh bạch đáng chú ý này.