Methods for studying monolayers can

Methods for studying monolayers can differ greatly from characterization techniques of solution chemistry. Ellipsometry[5] measures the change in amplitude and phase of light upon reflection. Using these values, the thickness and refractive index of a film can be calculated. This procedure can be used to determine the thickness of a monolayer before and after reactions to detect

3
adsorption of molecules onto the SAM. Since the commercialization of surface plasmon resonance spectrometers, surface plasmon resonance spectroscopy has become a vital tool in for imaging reactions on SAMs. Surface plasmon resonance is an in situ technique that measures changes in the refractive index of a monolayer attached to a metal surface[6]. This allows for collection of both kinetic and thermodynamic information about a system in real time. X-Ray photoelectron spectroscopy (XPS) [7] is a technique which quantifies the elemental composition of monolayers

Kết quả (Việt) 1:

Phương pháp cho việc học tập monolayers có thể khác với rất nhiều đặc tính kỹ thuật của giải pháp hóa học. Ellipsometry [5] các biện pháp thay đổi cường độ và pha của ánh sáng khi sự phản ánh. Sử dụng các giá trị này, độ dày và chiết của một bộ phim có thể được tính toán. Thủ tục này có thể được sử dụng để xác định độ dày của monolayer một trước và sau khi các phản ứng để phát hiện 3Hấp phụ của các phân tử lên SAM. Kể từ khi việc thương mại hóa của quang phổ kế cộng hưởng bề mặt plasmon, phổ học cộng hưởng bề mặt plasmon đã trở thành một công cụ quan trọng trong cho hình ảnh phản ứng trên SAMs. Bề mặt plasmon cộng hưởng là một kỹ thuật tại chỗ các biện pháp thay đổi trong chỉ số khúc xạ của một monolayer gắn liền với một bề mặt kim loại [6]. Điều này cho phép cho bộ sưu tập của cả hai động lực và nhiệt thông tin về một hệ thống trong thời gian thực. X-Ray photoelectron spectroscopy (XPS) [7] là một kỹ thuật lượng thành phần nguyên tố của monolayers

Kết quả (Việt) 2:

Phương pháp đơn lớp học có thể khác nhau rất nhiều từ kỹ thuật đặc tính hóa học giải pháp. Ellipsometry [5] đo lường sự thay đổi trong biên độ và pha của ánh sáng sau khi phản ánh. Sử dụng các giá trị, độ dày và chiết suất của một bộ phim có thể được tính toán. Thủ tục này có thể được sử dụng để xác định độ dày của một lớp đơn trước và sau khi phản ứng để phát hiện 3 hấp thụ các phân tử vào SAM. Kể từ khi thương mại hóa các plasmon bề mặt quang phổ cộng hưởng, cộng hưởng plasmon bề mặt quang phổ đã trở thành một công cụ quan trọng trong việc chụp ảnh cho các phản ứng trên SAM. Plasmon bề mặt cộng hưởng là một kỹ thuật tại chỗ để đo những thay đổi trong chỉ số khúc xạ của một lớp đơn gắn liền với một bề mặt kim loại [6]. Điều này cho phép thu thập thông tin của cả hai động học và nhiệt động lực học về một hệ thống trong thời gian thực. X-Ray quang điện tử quang phổ (XPS) [7] là một kỹ thuật định lượng các thành phần nguyên tố của đơn lớp