Figure 5 shows the SEM images and E

Figure 5 shows the SEM images and EDS analysis results of 10 nm-thick Cr seed layer FCCL, before and after the peel test. Figures 5(a) and (b) revealed that the adhesion interface of the manufactured FCCL was very uniform and that the fracturing observed after the peel test occurred between the PI and metal layer. Figures 5(c) and (d) show that the oxygen, copper and chromium elements were detected on the

Kết quả (Việt) 1:

Hình 5 cho thấy hình ảnh SEM và EDS kết quả phân tích của 10 nm dày Cr hạt giống lớp FCCL, trước và sau khi kiểm tra vỏ. Nhân vật 5(a) và (b) tiết lộ rằng giao diện bám dính của FCCL sản xuất là rất thống nhất và rằng bẻ gãy các quan sát sau khi kiểm tra vỏ xảy ra giữa PI và lớp kim loại. Nhân vật 5(c) và (d) cho thấy rằng các nguyên tố ôxy, đồng và crôm đã được phát hiện trên các

Kết quả (Việt) 2:

Hình 5 cho thấy những hình ảnh SEM và kết quả phân tích của EDS 10 nm dày lớp hạt Cr FCCL, trước và sau khi thử nghiệm vỏ. Hình 5 (a) và (b) cho thấy các giao diện kết dính của FCCL chế tạo là rất thống nhất và các khe nứt quan sát sau khi thử nghiệm vỏ xảy ra giữa PI và lớp kim loại. Hình 5 (c) và (d) cho thấy oxy, đồng và crom yếu tố này được phát hiện trên