SEM (scanning electron microscope)

SEM (scanning electron microscope) images of the fracture surfaces of the samples were obtained on Jeol JSM 5800 with a voltage
of 10 kV and the pressure of 10−5 Pa. Samples were previously
cracked in liquid nitrogen and coated with gold alloy to improve
conductivity and prevent charging

Kết quả (Việt) 1:

SEM (kính hiển vi điện tử quét) hình ảnh của các bề mặt gãy xương của các mẫu đã được thu được trên Jeol JSM 5800 với một điện áp10 kV và áp lực của 10−5 Pa. mẫu đã trước đónứt trong nitơ lỏng và phủ một lớp các hợp kim vàng để cải thiệntính dẫn điện và ngăn chặn sạc

Kết quả (Việt) 2:

SEM (kính hiển vi điện tử quét) hình ảnh của bề mặt vết nứt của các mẫu thu được trên JEOL JSM 5800 với một điện áp
10 kV và áp lực của 10-5 Pa. Các mẫu được trước đó
bị nứt trong nitơ lỏng và được bọc bằng hợp kim vàng để cải thiện
tính dẫn và ngăn chặn sạc