All reagents and chemicals used in

All reagents and chemicals used in this study were purchased
from Sigma (USA) and were of analytical grade
and used without further purification. All solutions were
prepared using distilled water.
Powder X-ray diffraction (PXRD) patterns of all synthesized
samples were recorded using a Bruker D8 Focus
X-ray powder diffractometer at the Sri Lanka Institute of
Nanotechnology using CuKα radiation (λ = 0.154 nm)
over a 2θ range of 3–60°, with a step size of 0.02° and a
step time of 1 s. The particle size and morphology of the
synthesized samples were studied using a scanning electron
microscopy (SEM; HITACHI SU6600 microscope).
The chemical nature and molecular bonding of the synthesized
samples were studied using Fourier Transform
Infra Red Spectroscopy (FTIR; Bruker Vertex80), a range
from 600 to 4000 cm–1 using attenuated total reflectance
(ATR) technique

Kết quả (Việt) 1:

Tất cả các chất phản ứng và các hóa chất sử dụng trong nghiên cứu này đã được muatừ Sigma (Hoa Kỳ) và đã phân tích lớpvà được sử dụng mà không cần tiếp tục làm sạch. Tất cả các giải pháp đãchuẩn bị bằng cách sử dụng nước cất. Bột nhiễu xạ tia x (PXRD) mô hình của tất cả tổng hợpmẫu đã được ghi lại bằng cách sử dụng một tập trung D8 BrukerX-quang bột diffractometer tại viện Sri LankaCông nghệ nano bằng cách sử dụng bức xạ CuKα (λ = 0.154 nm)trên một phạm vi 2θ 3-60°, với kích thước bước 0,02 ° và mộtbước thời gian 1 s. Kích thước hạt và hình thái của cácTổng hợp mẫu được nghiên cứu bằng cách sử dụng một điện tử quétkính hiển vi (SEM; HITACHI SU6600 kính hiển vi).Tính chất hóa học và phân tử liên kết của các tổng hợpmẫu đã được nghiên cứu sử dụng biến đổi FourierHồng ngoại màu đỏ phổ học (FTIR; Bruker Vertex80), một loạt cáctừ 600 đến 4000 cm-1 bằng cách sử dụng loại phản xạ tất cảKỹ thuật (ATR)

Kết quả (Việt) 2:

Tất cả các thuốc thử và hoá chất sử dụng trong nghiên cứu này đã được mua
từ Sigma (Mỹ) và là lớp phân tích
và sử dụng mà không cần tinh chế thêm. Tất cả các giải pháp đã được
chuẩn bị bằng cách sử dụng nước cất.
Powder nhiễu xạ tia X (PXRD) mô hình của tất cả các tổng hợp
các mẫu được ghi lại bằng cách sử dụng một Bruker D8 Focus
bột nhiễu xạ X-ray tại Viện Sri Lanka của
công nghệ nano sử dụng bức xạ CuKα (λ = 0,154 nm)
trên một loạt 2θ của 3-60 °, với nhiều kích thước step 0,02 ° và một
bước thời gian của 1 s. Kích thước hạt và hình thái của các
mẫu tổng hợp được nghiên cứu sử dụng một vi điện tử quét
kính hiển vi (SEM; HITACHI SU6600 kính hiển vi).
Tính chất hóa học và phân tử liên kết của tổng hợp
các mẫu được nghiên cứu bằng Fourier transform
Infra Red Spectroscopy (FTIR; Bruker Vertex80), một phạm vi
600-4000 cm-1 sử dụng giảm độc lực tổng phản xạ
(ATR) kỹ thuật