Fig. 1. X-ray diffraction spectra o

Fig. 1. X-ray diffraction spectra of silver oxide thin films prepared on zinc metallic substrate

Fig. 2 showed the x -ray diffraction spectra of silver oxide thin films prepared on lead metallic substrate at room temperature (26C). The figure reveals the existence of seven (7) prominent peaks of orientation (110), (111), (115), (020), (003), (211), (210) planes of reflections. (111) reflection of highest intensity gave an orthorhombic structure of Ag2O 3 with intergrowth of (003) and (210) reflections of hexagonal structure of Ag2O. Impurities were also recorded with (110), (211) reflections of tetragonal structure of PbO2, (020) reflection of orthorhombic structure of PbO. The crystals were sharp at inter planar distance of 3.5019Å and collapsed at 1.55592 Å. The average crystalline grain size calculated is 6.02 Å and 0.5μm thickness.

Kết quả (Việt) 2:

Sung. Nhiễu xạ quang phổ 1. X-quang của màng mỏng oxit bạc chuẩn bị trên bề mặt kim loại kẽm

hình. 2 cho thấy x -ray phổ nhiễu xạ của màng mỏng oxit bạc chuẩn bị trên bề mặt kim loại dẫn ở nhiệt độ phòng (26C). Con số này cho thấy sự tồn tại của bảy (7) đỉnh nổi bật của định hướng (110), (111), (115), (020), (003), (211), (210) máy bay của phản xạ. (111) phản ánh của cường độ cao nhất cho một cấu trúc trực thoi của Ag2O 3 với intergrowth của (003) và (210) phản ánh của cấu trúc lục giác của Ag2O. Các tạp chất cũng được ghi nhận với (110), (211) phản ánh của cấu trúc có bốn gốc của PbO2, (020) phản ánh của cấu trúc trực thoi của PbO. Các tinh thể sắc nét ở khoảng cách phẳng liên của 3.5019Å và sụp đổ vào 1,55592 Å. Kích thước tinh thể hạt trung bình tính toán là 6,02 Å và độ dày 0.5μm.