The group has reported ellipsometry measurements in the wavelength range 500 nm…800 nm that show significant changes of the voltage-dependent refractive index in bulk ITO layers that are transparent at these wavelengths
Nhóm đã báo cáo ellipsometry đo ở bước sóng khoảng 500 nm...800 nm Hiển thị các thay đổi đáng kể của chiết điều khiển điện áp phụ thuộc vào trong hàng loạt ITO lớp được minh bạch các bước sóng
Các nhóm đã được báo cáo đo ellipsometry trong khoảng bước sóng 500 nm ... 800 nm cho thấy những thay đổi đáng kể của chỉ số khúc xạ điện áp phụ thuộc vào số lượng lớn các lớp ITO được minh bạch tại các bước sóng