IV. CONCLUSIONIn this work, we have

IV. CONCLUSION
In this work, we have demonstrated the power of the
spectroscopic ellipsometry technique to monitor in situ the
quality of LNO films and such processes as reduction and
reoxygenation processes, which occur for various oxygen
pressures and as a function of the temperature. Oxygen reduction
is observed at high temperature under high vacuum
through the modification of the ellipsometric signal. The determined
refractive index
extinction coefficient decreases

increases significantly in the reduced state. At the same
time, we show that the Drude-Lorentz model, in particular,
the Drude part associated with the metal feature, is no longer
appropriate to describe the LaNiO3−x with x0 due to the
progressive loss of the metallic behavior of the reduced film.
Ex situ transport measurements confirm the modification
from metal to semiconductor and x-ray photoelectron spectroscopy shows a shift in La-O and Ni-O binding energies in
agreement with the loss of oxygen in the La-O plane and
corollary, the change in nickel environment
Ni3+ to Ni2+.
These reduction and reoxygenation treatments are fully reversible
in all properties. For a longer reduction time, oscillations
appear in SE parameters
Fig. 3 as a consequence of
the metal to insulator transition and the phase transformation
to a new La2NiO4 phase where a segregation of NiO takes
place. In this latter case, the transformation is partially irreversible.
These oscillations are related to the film thickness,
as one has to consider multiple reflections of the light with
the substrate interface.
The reoxygenation is controlled in situ by ellipsometry
and a sharp transition in optical index is observed in the
temperature range of 473–573 K. The transition amplitude
depends on the oxygen pressure. We suppose an opening of
channels in the reduced structure followed by a structural
rearrangement that prevents further oxygenation. This effect
could be used in an oxygen gas sensor as a contactless conductivity
measurement compared to the electrical measurements
which are classically developed. Moreover, one can
imagine using the phenomenon as thermometer to control in
situ the temperature of the film surfaces.

Kết quả (Việt) 1:

IV. KẾT LUẬNTrong tác phẩm này, chúng tôi đã chứng minh sức mạnh của cácquang phổ ellipsometry kỹ thuật để giám sát tại chỗ cácchất lượng của LNO bộ phim và các quá trình như giảm vàquy trình reoxygenation, xảy ra cho nhiều oxyáp lực và như là một hàm của nhiệt độ. Giảm oxyđược quan sát thấy ở các nhiệt độ cao dưới máy hút caothông qua các sửa đổi của tín hiệu ellipsometric. Việc xác địnhchiết tuyệt chủng hệ số giảmtăng đáng kể trong nước giảm. Cùng một lúcthời gian, chúng tôi thấy rằng các mô hình Drude-Lorentz, đặc biệt,phần Drude liên kết với các tính năng kim loại, không cònthích hợp để mô tả LaNiO3−x với x 0 do cáctiến bộ mất hành vi kim loại của bộ phim giảm.Ex situ giao thông vận tải, đo đạc xác nhận sửa đổitừ kim loại chất bán dẫn x-ray photoelectron phổ học cho thấy một sự thay đổi ở La-O và Ni-O ràng buộc nguồn năng lượng trongthỏa thuận với sự mất mát của oxy trong máy bay La-O vàhệ luỵ, sự thay đổi trong môi trường niken Ni3 + Ni2 +.Các phương pháp điều trị giảm và reoxygenation có thể đảo ngược hoàn toàntrong tất cả các thuộc tính. Trong một thời gian dài giảm, dao độngxuất hiện trong các tham số nam hình 3 là một consequence củakim loại cách điện chuyển tiếp và giai đoạn chuyển đổiđến một giai đoạn mới của La2NiO4 trong trường hợp một sự phân biệt của NiO mấtvị trí. Trong trường hợp thứ hai này, việc chuyển đổi là một phần không thể đảo ngược.Những dao động có liên quan đến độ dày của bộ phim,như người ta phải xem xét nhiều phản ánh của ánh sáng vớigiao diện bề mặt.Reoxygenation được điều khiển tại chỗ bằng ellipsometryvà một sự chuyển đổi sắc nét trong chỉ mục quang được quan sát thấy ở cácphạm vi nhiệt độ của 473-573 K. Biên độ quá trình chuyển đổiphụ thuộc vào áp lực oxy. Chúng tôi giả sử một mởkênh trong cơ cấu giảm theo một cấu trúcsắp xếp lại ngăn cản oxy hóa hơn nữa. Này có hiệu lựccó thể được sử dụng trong một bộ cảm biến khí oxy như là một dẫn tiếp xúcđo lường so với các phép đo điệnđó là phát triển theo kiểu cổ điển. Hơn nữa, ta có thểHãy tưởng tượng bằng cách sử dụng các hiện tượng như nhiệt kế để kiểm soát trongSitu nhiệt độ bề mặt của bộ phim.

Kết quả (Việt) 2:

IV. KẾT LUẬN
Trong công trình này, chúng tôi đã chứng minh sức mạnh của
kỹ thuật ellipsometry quang phổ để giám sát tại chỗ các
chất lượng của bộ phim LNO và quy trình như giảm và
quá trình reoxygenation, xảy ra cho oxy nhiều
áp lực và như là một hàm của nhiệt độ. Giảm oxy
được quan sát ở nhiệt độ cao dưới chân không cao
thông qua việc sửa đổi các tín hiệu ellipsometric. Các quyết
hệ số chiết suất tuyệt chủng? Giảm
? Làm tăng đáng kể trong trạng thái giảm. Tại cùng một
thời gian, chúng tôi cho thấy rằng mô hình Drude-Lorentz, đặc biệt,
phần Drude kết hợp với các tính năng kim loại, không còn
thích hợp để mô tả LaNiO3-x với x? 0 do sự
mất dần của các hành vi kim loại của bộ phim giảm.
Ex đo vận chuyển chỗ xác nhận sự thay đổi
từ kim loại bán dẫn và x-quang điện tử tia quang phổ cho thấy một sự thay đổi trong La-O và Ni-O ràng buộc năng lượng trong
thỏa thuận với sự mất mát của oxy trong mặt phẳng La-O và
hệ quả tất yếu, sự thay đổi trong môi trường niken? Ni3 + để Ni2 +.
những phương pháp điều trị giảm và reoxygenation là hoàn toàn có thể đảo ngược
trong tất cả các tài sản. Trong một thời gian giảm dài hơn, dao động
xuất hiện trong các thông số SE? Hình. 3 là một hệ quả của
các kim loại chuyển tiếp cách điện và sự chuyển đổi giai đoạn
đến một giai đoạn La2NiO4 mới trong đó một sự phân biệt của NiO mất
chỗ. Trong trường hợp sau này, việc chuyển đổi là một phần không thể đảo ngược.
Những dao động có liên quan đến độ dày màng,
như người ta phải xem xét nhiều phản xạ của ánh sáng với
giao diện bề mặt.
Các reoxygenation được điều khiển tại chỗ bằng cách ellipsometry
và một quá trình chuyển đổi mạnh trong chỉ số quang học được quan sát trong
khoảng nhiệt độ từ 473-573 K. việc chuyển đổi biên độ
phụ thuộc vào áp suất oxy. Chúng tôi cho rằng sự mở
kênh trong cơ cấu giảm theo sau là một cấu trúc
sắp xếp lại ngăn cản oxy hóa hơn nữa. Hiệu ứng này
có thể được sử dụng trong một bộ cảm biến khí oxy như một xúc dẫn
đo lường so với các phép đo điện
được phát triển theo kiểu cổ điển. Hơn nữa, người ta có thể
tưởng tượng được sử dụng hiện tượng như nhiệt kế để kiểm soát ở
chỗ nhiệt độ của bề mặt phim.